電力電纜故障測(cè)試儀測(cè)試面板可分為四部分：菜單欄、狀態(tài)欄、圖形顯示區(qū)、功能鍵區(qū)。

１、菜單欄 菜單欄包括：‘數(shù)據(jù)管理’和‘測(cè)試幫助’兩個(gè)菜單項(xiàng)。‘數(shù)據(jù)管理’菜單：包括‘打印’，‘讀盤’，‘存盤’，‘結(jié)束’四個(gè)菜單項(xiàng)。 選擇‘打印’可將屏幕顯示內(nèi)容用打印機(jī)打印出來(lái)；選‘存盤’可將測(cè)試的波形和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于電腦的硬盤或者軟盤中，作為資料保存；選‘讀盤’可調(diào)出以前測(cè)試時(shí)存在磁盤內(nèi)的波形；選‘結(jié)束’可退出該控制面板。‘測(cè)試幫助’：點(diǎn)擊該菜單，可顯示測(cè)試管理系統(tǒng)的使用說(shuō)明書(shū)，可打印輸出。

2、狀態(tài)欄狀態(tài)欄里顯示四個(gè)方面的信息，zui左邊是測(cè)試方式；第二個(gè)是選擇的電纜介質(zhì)所對(duì)應(yīng)電波速度（若是測(cè)速度，則不顯示介質(zhì)信息）第三個(gè)是故障距離（或電纜長(zhǎng)度），右邊顯示測(cè)試日期。

3、圖形顯示區(qū)圖形顯示區(qū)用來(lái)顯示采樣所得的波形，對(duì)波形進(jìn)行分析處理和顯示處理結(jié)果。

4、功能鍵區(qū)功能鍵區(qū)由14個(gè)按鍵組成，可分為三類。

初始化數(shù)據(jù)：包括測(cè)試方法和介質(zhì)選擇兩個(gè)鍵。

電力電纜故障測(cè)試儀測(cè)試方法：有兩種選擇，‘測(cè)故障’和‘測(cè)速度’。基本的測(cè)試方法有三種， ‘低壓脈沖’，‘沖閃’，‘直閃’。‘低壓脈沖’包有‘2μs’和‘0.2μs’兩種脈寬可選擇；‘沖閃’包括‘電感電壓取樣’，‘電阻電壓取樣’，‘電流取樣’三個(gè)菜單項(xiàng)；‘直閃’包括‘電壓取樣’‘電流取樣’兩個(gè)菜單項(xiàng)。介質(zhì)選擇：程序初始化時(shí)設(shè)置為：‘油浸紙型’，如果是其他介質(zhì)的電纜，可根據(jù)電纜的介質(zhì)選擇。

電力電纜故障測(cè)試儀共有五選項(xiàng)：‘油浸紙型’，‘不滴流型’，‘交聯(lián)乙烯’，‘聚氯乙烯’，‘自選介質(zhì)’五個(gè)菜單項(xiàng) 。選擇其中一個(gè)菜單項(xiàng)就等于選擇一種速度，即電波在該電纜中的傳播速度。

電力電纜故障測(cè)試儀數(shù)據(jù)采樣與測(cè)試：共有八個(gè)按鍵：‘采樣’鍵：在系統(tǒng)測(cè)試時(shí)采用。每按動(dòng)一次‘采樣’鍵，系統(tǒng)便采集一次數(shù)據(jù)，并可以在圖形顯示區(qū)繪出波形圖來(lái)。‘擴(kuò)展’鍵：為了*計(jì)算故障距離，按此鍵可將顯示的波形擴(kuò)展后再計(jì)算。每按一次波形擴(kuò)展一倍，按四次為一個(gè)循環(huán)。‘卷動(dòng)’鍵：波形擴(kuò)展后，故障點(diǎn)特征波形可能會(huì)出于*屏以外的其它屏內(nèi)，按此鍵可將顯示內(nèi)容一屏一屏地向左移動(dòng)，直到故障波形在屏顯示出來(lái)，便在光標(biāo)*定位。‘歸位’鍵：需要光標(biāo)快速回到屏幕zui左端時(shí)按此鍵。‘定位’鍵：計(jì)算距離起點(diǎn)鍵。在光標(biāo)移動(dòng)到特征波形的起始拐點(diǎn)處按此鍵。‘左移’鍵和‘右移’鍵：這兩個(gè)鍵用于控制光標(biāo)的左右移動(dòng)。當(dāng)按動(dòng)它們時(shí)，游標(biāo)移動(dòng)，每按一次移動(dòng)一個(gè)單位。

此外，為了快速移動(dòng)游標(biāo)，可以用鼠標(biāo)拖動(dòng)游標(biāo)，到合適的位置松開(kāi)即可。‘復(fù)位’鍵：系統(tǒng)復(fù)位鍵。無(wú)論系統(tǒng)處于何種狀態(tài)，按此鍵均可進(jìn)入系統(tǒng)主界面。波形比較：有四個(gè)鍵。‘儲(chǔ)存’鍵：按此鍵可將測(cè)試的波形和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于電腦中。（‘存儲(chǔ)’與‘存盤’不同。‘存盤’是將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在磁盤上，可長(zhǎng)期保存，而‘存儲(chǔ)’只是將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在電腦內(nèi)存中，關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)會(huì)丟失。）‘調(diào)用’鍵：與‘存儲(chǔ)’鍵配合使用。按此鍵可在屏幕上顯示上次存儲(chǔ)的內(nèi)容，以便分析與計(jì)算。‘比較’鍵：按此鍵可將現(xiàn)測(cè)的波形和儀器內(nèi)存儲(chǔ)的波形同時(shí)顯示在屏幕上，用戶可對(duì)這兩幅波形進(jìn)行比較分析。‘平移’鍵：按此鍵進(jìn)入圖形左右移動(dòng)功能，點(diǎn)‘左移’鍵可將兩個(gè)波形的起點(diǎn)對(duì)齊。